Congrès
Vector space measures and applications : Vol. 2
Aron, Richard M. (Ed.) ; Dineen, Sean (Ed.)
1978
viii, 218 p.
3-540-08669-2
M/A1(645)
analyse fonctionnelle ; analyse globale ; analyse sur les variétés ; edp ; intégration ; mesure ; probabilité ; théorie quantique
Bibliothèque de l'IECL
IECL
Class. Mathématique : 28-XX ; 35-XX ; 46-XX ; 58-XX ; 60-XX ; 81-XX
Pays d'édition : Allemagne
Ville d'édition : Berlin/Heidelberg/New York
Langue : anglais
Format : 25 cm
Collection : Lecture notes in mathematics
N° de collection : 0645
Bibliographie : Notes bibliographiques
Nom du congrès : Conference on vector space measures and applications
Lieu du congrès : Dublin
Pays du congrès : Irlande
Date du congrès : June 26 to july 2, 1977
Exemplaires
Nbre d'exemplaires : 1| N° | Cote / Code barre | Localisation | Commentaire | |
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| 1 | M/A1(645) MAT014520 | [disponible] | YRéserver |