Congrès
Pattern recognition with support vector machines
Lee, Seong-Whan (Ed.) ; Verri, Alessandro (Ed.)
2002
xi, 420 p.
3-540-44016-X
LEE p
statistique ; calcul scientifique ; système d'apprentissage adaptatif
Bibliothèque de l'IECL
IECL
Class. Mathématique : 62H30 ; 68-06 ; 68T05 ; 68T10
Pays d'édition : Allemagne
Ville d'édition : Berlin/Heidelberg/New York
Langue : anglais
Format : 23 cm
Collection : Lecture notes in computer science
N° de collection : 2388
Bibliographie : Notes bibliographiques
Nom du congrès : First international workshop, SVM 2002
N° du congrès : 1st
Lieu du congrès : Niagara Falls
Pays du congrès : Canada
Date du congrès : August 10, 2002
Exemplaires
Nbre d'exemplaires : 1| N° | Cote / Code barre | Localisation | Commentaire | |
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| 1 | LEE p MAT009175 |
€ 62,58 - Lindsay [disponible] |
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