Statistical analysis of measurment error models and applications : Proceedings of the AMS-IMS-SIAM joint summer research conference
Brown, Philip J. (Ed.) ; Fuller, Wayne (Ed.)
1990
xii, 248 p.
0-8218-5117-9
M/A23(112)
analyse d'erreur ; statistique
Bibliothèque de l'IECL
IECL
Class. Mathématique : 62-06 ; 62J99
Pays d'édition : Etats-Unis
Ville d'édition : Providence, Rhode Island
Langue : anglais
Format : 26 cm
Illustrations : Fig.
Collection : Contemporary mathematics
N° de collection : 112
ISSN Collection : 0271-4132
Bibliographie : Notes bibliographiques
Nom du congrès : AMS-IMS-SIAM joint summer research conference in the mathematical sciences on statistical analysis of measurement error models and applications
Lieu du congrès : Arcata, California
Pays du congrès : Etats-Unis
Date du congrès : June 10-16, 1989
Exemplaires
Nbre d'exemplaires : 1| N° | Cote / Code barre | Localisation | Commentaire | |
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| 1 | M/A23(112) MAT018514 | [disponible] | YRéserver |