Congrès
Methodologies of pattern recognition
Class. Mathématique : 60J20 ; 62Lxx ; 93Exx
Pays d'édition : Etats-Unis
Ville d'édition : New York/London
Langue : anglais
Format : 24 cm
Illustrations : Fig.
Bibliographie : Notes bibliographiques/index
Nom du congrès : International conference on methodologies of pattern recognition
Lieu du congrès : Honolulu, Hawaii
Pays du congrès : Etats-Unis
Date du congrès : January 24-26, 1968
Exemplaires
Nbre d'exemplaires : 1| N° | Cote / Code barre | Localisation | Commentaire | |
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| 1 | WATANABE m MAT013120 | [disponible] | YRéserver |