Congrès
Wavelets and applications
Meyer, Yves (Ed.)
1992
450 p.
2-225-82550-5
MEYER w
analyse de Fourier ; espace de Banach ; espace vectoriel normé ; ondelette ; opérateur
Bibliothèque de l'IECL
IECL
Class. Mathématique : 42-XX ; 46Bxx ; 46Exx ; 47-XX
Pays d'édition : France
Ville d'édition : Paris
Langue : anglais
Format : 24 cm
Illustrations : Fig. ; Ill. en coul.
Collection : Recherches en mathématiques appliquées (RMA ou RAM)
N° de collection : 020
Bibliographie : Notes bibliographiques
Nom du congrès : International conference on wawelets and their applications
N° du congrès : 002
Lieu du congrès : Marseille-Luminy
Pays du congrès : France
Date du congrès : may 1989
Exemplaires
Nbre d'exemplaires : 1| N° | Cote / Code barre | Localisation | Commentaire | |
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| 1 | MEYER w MAT010197 |
F 233.65 - OFFILIB [disponible] |
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