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Sélection
Congrès

Distribution theory for tests based on the sample distribution function

Durbin, J.

SIAM

1973

vi, 64 p.

DURBIN d

statistique ; test

Bibliothèque de l'IECL

0

IECL

Class. Mathématique : 62-XX ; 62Exx

Pays d'édition : Etats-Unis

Ville d'édition : Philadelphia, Pennsylvania

Langue : anglais

Format : 25 cm

Collection : CBMS-NSF-Regional conference series in applied mathematics

N° de collection : 009

Bibliographie : Bibliogr. p. 59-64

Nom du congrès : Conference on tests based on the sample distribution fonction

Lieu du congrès : State university of New York, Buffalo

Pays du congrès : Etats-Unis

Date du congrès : August/September 1971




Emprunt/Réservation

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Exemplaires

Nbre d'exemplaires : 1
Cote / Code barre Localisation Commentaire
1 DURBIN d
MAT003639
[disponible] YRéserver