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Sélection
Congrès

Grandes déviations et applications statistiques

SMF

1979

200 p.

M/A3(68)

estimation ; grande déviation ; inférence paramétrique ; processus de Markov ; processus stochastique ; théorème de Chernoff ; théorème limite

Bibliothèque de l'IECL

0

IECL

Définition du document : Séminaire

Class. Mathématique : 60F10 ; 60Fxx ; 60J10 ; 62E20 ; 62F12 ; 62M05

Pays d'édition : France

Ville d'édition : Paris

Langue : anglais ; français

Format : 24 cm

Illustrations : Fig.

Collection : Astérisque

N° de collection : 068

ISSN Collection : 0303-1179

Bibliographie : Notes bibliographiques

Nom du congrès : Séminaire Orsay

Lieu du congrès : Orsay

Pays du congrès : France

Date du congrès : 1977-1978


Emprunt/Réservation

Y Réserver

Exemplaires

Nbre d'exemplaires : 1
Cote / Code barre Localisation Commentaire
1 M/A3(68)
MAT015693
[disponible] YRéserver