Statistical regression with measurement error
Cheng, Chi-Lun ; Van Ness, John W.
1999
xi, 262 p.
0-340-61461-7
CHENG s
analyse de régression ; statistique
Bibliothèque de l'IECL
IECL
Class. Mathématique : 62-02 ; 62F05 ; 62J05
Pays d'édition : Grande-Bretagne
Ville d'édition : London
Langue : anglais
Format : 24 cm
Collection : Kendall's library of statistics
N° de collection : 006
Bibliographie : Bibliogr. p. 241-252/index
N° | Cote / Code barre | Localisation | Commentaire | |
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1 | CHENG s MAT002501 |
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