Stochastic ageing and dependence for reliability
Lai, Chin-Diew ; Xie, Min ; Barlow, Richard E. (Préf.)
2006
xx, 418 p.
0-387-29742-1
LAI s
dépendance ; fiabilité ; vieillissement
Bibliothèque de l'IECL
IECL
Class. Mathématique : 60E15 ; 60K10 ; 62N05 ; 90B25
Pays d'édition : Etats-Unis
Ville d'édition : New York
Langue : anglais
Format : 24 cm
Illustrations : Fig.
Titre original : Bibliogr. p. 363-408/index
N° | Cote / Code barre | Localisation | Commentaire | |
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